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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38730. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38730
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38731. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38731
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38732. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38732
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38733. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38733
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38734. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38734
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38735. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38735
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)小Grainのdiffを使ったdark.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38736. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38736
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)小Grainのdiffを使ったdark.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38737. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38737
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38738. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38738
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38739. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38739
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38740. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38740
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38741. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38741
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38742. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38742
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38743. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38743
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38744. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38744
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38745. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38745
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38746. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38746
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38747. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED, 55cm., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38747
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm. (反射ベクトルg)220.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38748. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38748
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38749. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38749
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝順方向2.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38750. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38750
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38751. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38751
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38752. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38752
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38753. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38753
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38754. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38754
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38755. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38755
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38756. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38756
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38757. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38757
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38758. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38758
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38759. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38759
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38760. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38760
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38761. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38761
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38762. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38762
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38763. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED, 55cm., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38763
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38764. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38764
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38765. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38765
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38766. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38766
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38767. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38767
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38768. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED, 55cm., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38768
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm. (反射ベクトルg)220.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38769. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38769
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38770. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38770
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38771. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38771
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38772. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38772
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38773. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38773
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38774. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38774
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38775. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38775
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38776. SUS, K250, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38776
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K250. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38777. SUS, K250, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38777
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K250. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38778. SUS, K250, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38778
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K250. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38779. SUS, K250, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38779
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K250. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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