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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39034. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39034
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39035. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39035
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)極微細なdotsがまばらにいる。.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39036. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39036
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)DF s＞0では殆ど見えない.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39037. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39037
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)s＞＞0では良く見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39038. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39038
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)s＞＞＞0では極めて小さく見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39039. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39039
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39040. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39040
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

(備考)以上38-40は一組　1.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39041. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39041
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39042. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39042
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上41-42は一組　2.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39043. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39043
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)かぶったために使用不可.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39386. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39386
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「89 1/28」.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39387. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39387
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39388. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39388
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39389. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39389
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39390. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39390
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39391. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39391
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39392. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39392
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39393. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39393
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39394. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39394
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≦0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39395. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39395
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39396. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39396
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39397. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39397
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39398. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39398
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39399. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39399
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39400. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39400
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39401. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39401
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39402. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39402
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39403. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39403
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39404. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39404
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39405. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39405
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39406. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39406
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39407. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39407
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39408. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39408
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39409. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39409
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39410. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39410
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39411. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 30K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39411
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39412. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39412
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39413. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39413
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330K.

(備考)3 撮り直し.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39414. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39414
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39415. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39415
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39416. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「1/28」.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39417. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39417
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39418. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39418
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39419. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39419
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39420. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39420
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞1.

(備考)以下20-24ハステレオ　　A 1.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39421. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39421
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B 1.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39422. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39422
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39423. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39423
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞1.

(備考)A' 2.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39424. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39424
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B' 2.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39425. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-39425
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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