メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40674. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40674
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40675. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40675
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40676. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40676
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40677. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40677
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40678. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40678
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40679. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40679
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40680. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40680
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40681. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40681
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40682. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40682
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40683. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40683
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40684. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40684
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40685. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40685
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40686. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40686
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)667からの続き.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40687. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40687
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40688. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40688
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40689. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40689
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40690. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40690
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40691. ムライト, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40691
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40692. ムライト, BF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40692
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40693. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40693
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40694. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40694
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40695. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40695
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41351. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41351
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)110. 日付元記載「平成元 6/5」.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41352. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41352
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41353. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41353
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41354. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41354
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)SFT 四角にみえるが.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41355. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41355
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41356. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41356
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41357. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41357
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41358. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41358
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41359. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41359
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41360. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41360
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)110.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41361. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41361
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41362. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41362
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41363. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41363
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↓ 1.5～2°傾けステレオ　.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41364. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41364
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↑.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41365. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41365
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41366. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41366
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41367. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41367
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41368. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41368
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41369. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41369
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)再び　100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41370. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41370
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41371. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41371
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41372. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41372
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41373. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41373
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41374. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41374
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41375. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, BF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41375
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41376. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41376
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41377. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41377
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41378. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41378
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ