メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41430. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41430
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41431. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41431
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41432. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41432
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓　増加.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41433. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41433
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41434. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41434
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)↑ 220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41435. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41435
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41436. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41436
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41437. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41437
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41438. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41438
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)↑　111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41439. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41439
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41440. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41440
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41441. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41441
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41442. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41442
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41443. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41443
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41444. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41444
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

(備考)2°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41445. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41445
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41446. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41446
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41447. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41447
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41448. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41448
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41449. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41449
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41450. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41450
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41451. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41451
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41452. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41452
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)ある程度いる.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41453. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41453
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41454. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41454
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41455. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41455
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41456. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41456
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41457. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41457
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41458. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41458
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41459. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41459
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)1°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41460. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41460
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)ここまで200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41461. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41461
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41462. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41462
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41463. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41463
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41464. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41464
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41465. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41465
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41466. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41466
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41467. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41467
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41468. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41468
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41469. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41469
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41470. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41470
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41471. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41471
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41472. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41472
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41473. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41473
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41474. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41474
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41475. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41475
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41476. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41476
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41477. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41477
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41478. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41478
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41479. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41479
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°ずらす.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ