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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41880. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41880
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41881. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41881
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41882. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 330K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41882
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41883. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41883
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41884. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41884
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41885. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41885
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41886. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41886
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41887. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41887
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41888. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41888
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41889. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41889
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41890. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41890
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41891. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41891
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41892. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41892
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41893. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41893
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41894. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41894
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41895. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41895
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41896. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41896
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42816. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 30K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42816
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89. 7. 24~」.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42817. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 50K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42817
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42818. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42818
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42819. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42819
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42820. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42820
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42821. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 150K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42821
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)3.

(備考)200.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42822. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42822
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42823. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42823
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42824. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42824
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42825. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42825
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42826. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42826
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42827. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42827
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

(備考)」200.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42828. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42828
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42829. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42829
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42830. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42830
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42831. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42831
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42832. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42832
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」220.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42833. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42833
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42834. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42834
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42835. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42835
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42836. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42836
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42837. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42837
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」111.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42838. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42838
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42839. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42839
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42840. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42840
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42841. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42841
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42842. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42842
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42843. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42843
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42844. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42844
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42845. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42845
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42846. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42846
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42847. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42847
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42848. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42848
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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