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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42949. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42949
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42950. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42950
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42951. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42951
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42952. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42952
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42953. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42953
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42954. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42954
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42955. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42955
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42956. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42956
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42957. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42957
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42958. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42958
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42959. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42959
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42960. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42960
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42961. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42961
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42962. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42962
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42963. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42963
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42964. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42964
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42965. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42965
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42966. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42966
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42967. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42967
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42968. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42968
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42969. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42969
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42970. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42970
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42971. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42971
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42972. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42972
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42973. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42973
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42974. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42974
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42975. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42975
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42976. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42976
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42977. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42977
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42978. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42978
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42979. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42979
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42980. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42980
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42981. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42981
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42982. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42982
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42983. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42983
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42984. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42984
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42985. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42985
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42986. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42986
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42987. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42987
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42988. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42988
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42989. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42989
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42990. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42990
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42991. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42991
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42992. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42992
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42993. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42993
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42994. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42994
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42995. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42995
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42996. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42996
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42997. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42997
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42998. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42998
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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