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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43650. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43650
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　C.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43651. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43651
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43652. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43652
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43653. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43653
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43654. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43654
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43655. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43655
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43656. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43656
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43657. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43657
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43658. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43658
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43659. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43659
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43660. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43660
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43661. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43661
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43662. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43662
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D　　F＝0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43663. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43663
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D F:over M-F 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43664. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43664
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D F:under M-F 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43665. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43665
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43666. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43666
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　E .

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43667. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43667
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43668. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43668
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　D　　F＝0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43669. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43669
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　D F:over 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43670. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43670
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　D F:under 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43671. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43671
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　D 前出とG逆.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43672. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43672
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43673. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43673
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43674. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43674
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43675. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43675
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43676. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43676
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43677. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43677
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43678. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43678
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43679. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43679
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43680. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　E　　上と対.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43681. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43682. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)twin boundary&loops.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43683. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下とtwin pair.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43684. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上とtwin pair.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43685. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)twin boundary&loops.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43686. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)odd G.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43687. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)odd G.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43688. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)satelliteに注意.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43689. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)上記EDのarea.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43690. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43690
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)T-controlled e- loop 入り. 日付元記載「1989. 8. 29」.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43691. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43691
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e- Int. loops Deform 200反射(90-94).

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43692. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43692
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43693. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43693
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43694. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43694
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43695. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43695
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e- loops.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43696. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43696
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)e- loops.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43697. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43697
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43698. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43698
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43699. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43699
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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