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義家, 敏正, 1948-

 個人

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43700. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43700
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43701. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43701
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A α.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43702. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43702
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B α.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43703. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43703
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43704. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43704
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43705. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43705
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43706. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43706
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43707. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43707
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43708. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43708
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A near 110.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43709. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43709
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B near 110.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43710. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43710
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43711. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43711
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43712. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43712
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43713. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43713
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43714. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43714
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43715. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43715
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)large loops.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43716. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43716
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43717. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43717
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)少し視野ずらす.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43718. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43718
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)少し視野ずらす.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43719. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43719
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)200反射（以下判読不能）、高次.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43720. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43720
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43721. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43721
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43722. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43722
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B あるふぁ.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43723. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43723
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43724. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43724
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43725. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43725
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B β.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43726. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43726
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43727. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43727
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A β.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43728. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43728
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43729. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43729
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-のものと思われる。.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43730. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43730
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Large loop by n-irr.なしと断言.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43740. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43740
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α. 日付元記載「1989. 8. 30」.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43741. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10k., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43741
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43742. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43742
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43743. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43743
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓.

(備考)A α.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43744. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43744
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43745. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43745
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↓.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43746. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43746
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43747. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43747
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43748. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43748
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43749. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43749
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43750. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43750
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43751. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43751
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43752. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43752
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↑.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43753. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43753
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)↑.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43754. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43754
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43755. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43755
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43756. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43756
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A γ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43757. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43757
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43758. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

 アイテム
資料番号: L-43758
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A γ.

日付: 1989. 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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