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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44209. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44209
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44210. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44210
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44211. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44211
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

(備考)focus ずらし　右へ5 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44212. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44212
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

(備考)focus ずらし　左へ5 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44213. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44213
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44214. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 150K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44214
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44215. SUS, J092, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 150K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44215
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44216. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44216
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44217. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44217
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)s逆.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44218. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44218
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)s逆.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44219. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44219
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44220. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44220
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44221. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44221
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44222. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44222
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44223. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44223
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44224. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44224
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44225. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 200K200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44225
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44226. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44226
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44227. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44227
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44228. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 150K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44228
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44229. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 150K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44229
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)右へ4 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44230. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 150K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44230
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)左へ4 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44231. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44231
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44232. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44232
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44233. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44233
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44234. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44234
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44235. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44235
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44236. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44236
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44237. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44237
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44238. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44238
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44239. SUS, B765, RTNS-II, 450℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44239
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B765. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44240. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44240
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44241. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44241
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44242. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44242
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44243. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44243
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44244. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44244
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44245. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44245
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44246. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44246
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44247. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44247
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44248. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44248
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44249. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44249
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44250. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44250
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44251. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44251
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44252. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44252
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44253. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44253
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44254. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44254
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44255. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44255
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44256. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44256
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44257. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44257
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44258. SUS, B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44258
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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