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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44998. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44998
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44999. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44999
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45000. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, BF, 15K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45000
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45001. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, BF, 15K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45001
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45002. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45002
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45003. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45003
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45004. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45004
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45005. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45005
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45006. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45006
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45007. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45007
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45008. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45008
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45009. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, ED, 55cm., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45009
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45010. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45010
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45011. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45011
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45012. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45012
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45013. Ni-2Ge, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45013
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45014. Ni, JMTR controlled, 200℃, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45014
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α（以下14-31まで）.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45015. Ni, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45015
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45016. Ni, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45016
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45017. Ni, JMTR controlled, 200℃, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45017
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45018. Ni, JMTR controlled, 200℃, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45018
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45019. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45019
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45020. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45020
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45021. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45021
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45022. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45022
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45023. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45023
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45024. Ni, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45024
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45025. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45025
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45026. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45026
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45027. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45027
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45028. Ni, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45028
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45029. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45029
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45030. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45030
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45031. Ni, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45031
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)2-20.

(備考)α(以上14-31まで).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45032. Ni, JMTR controlled, 200℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45032
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β（以下32-38まで).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45033. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45033
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45034. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 30K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-45034
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45035. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45035
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45036. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45036
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45037. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-45037
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45038. Ni, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45038
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β（以上32-38まで).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45039. Ni, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45039
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45040. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45040
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’(以下40-45まで)　　(110).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45041. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45041
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45042. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45042
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45043. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45043
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45044. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45044
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45045. Ni, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45045
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)α’(以上40-45まで) (110).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45046. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45046
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β’(以下46-62まで) (110).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-45047. Ni, JMTR controlled, 200℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-45047
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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