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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48305. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48305
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48306. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48306
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)06～11までBoundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48307. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48307
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48308. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48308
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48309. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48309
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48310. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48310
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48311. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48311
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48312. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48312
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48313. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48313
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48314. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48314
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)以下Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48315. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48315
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48316. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48316
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)このあたりノートにはきちんとした記録なし.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48317. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48317
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48318. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48318
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48319. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48319
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)dislocation 別Grain.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48320. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48320
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48321. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48321
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48322. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48322
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48323. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48323
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48324. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48324
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下doslocation欠乏領域.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48325. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48325
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48326. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48326
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48327. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48327
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48328. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 150K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48328
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)28～42まで g＝200.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48329. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 150K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48329
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48330. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48330
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48331. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48331
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48332. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48332
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48333. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48333
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48334. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48334
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48335. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48335
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48336. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48336
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48337. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48337
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48338. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48338
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48339. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48339
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48340. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48340
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48341. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48341
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓　上と同じGrain.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48342. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48342
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48343. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48343
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)43～48まで g＝220.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48344. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48344
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(1.8).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48345. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48345
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48346. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48346
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48347. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48347
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48348. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48348
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48349. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48349
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)以下再び g＝200.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48350. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48350
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48351. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48351
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48352. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48352
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48353. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48353
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48354. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48354
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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