義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59528. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, BF, 50K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59529. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 20K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59530. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59531. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59532. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α over M 4 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59533. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α under.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59534. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59535. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59536. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59537. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α under 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59538. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59539. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.
(備考)β over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59540. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.
(備考)β over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59541. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.
(備考)β under 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59542. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59543. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59544. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59545. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59546. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α under 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59547. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59548. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59549. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)β over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59550. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)β under 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59551. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59552. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59553. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59554. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)γ G=(220).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59555. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59556. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59557. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)δ G=(220).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59558. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59559. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α just.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59560. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α over 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59561. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α under 3 step.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59562. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59563. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α sの増加による変化からのI-V判定.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59564. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59565. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59566. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59567. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59568. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59569. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59570. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59571. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59572. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59573. Ni, B271, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月12日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B271. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β q(200).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59574. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF, 20K., [19]90. 9. 13.
(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)日付元記載「90. 9. 13」. 実験者元記載「(円の中に)浜田」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59575. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.
(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59576. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.
(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59577. Ni-0.05Sn, JMTR, 400℃, BF., [19]90. 9. 13.
(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1