メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60873. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 57cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60873
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)B.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60874. Ni-2Cu, 400℃-U., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60874
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U.

(備考)A70と同視野　」.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60875. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60875
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60876. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60876
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)となりの同じgrain.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60877. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60877
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60878. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60878
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60879. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60879
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)boundary反対grain.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60880. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60880
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)反対grain.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60881. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60881
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60882. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60882
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)小さなcluster　今までボイドと称したもの.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60883. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 5K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60883
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60884. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60884
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60885. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60885
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)loop重なりってtangle.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60886. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60886
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60887. Ni-2Cu, 400℃-U, 低倍., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60887
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (条件・倍率等)低倍.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60888. Ni-2Cu, 400℃-U, 低倍., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60888
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (条件・倍率等)低倍.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60889. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60889
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60890. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60890
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60891. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60891
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60892. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 20K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60892
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60893. Ni-2Cu, 400℃-U, BF, 10K., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60893
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60894. Ni-2Cu, 400℃-U., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60894
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB 抜けがいい（loopいない）.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60895. Ni-2Cu, 400℃-U, ED, 55cm., 1990. 11. 21.

 アイテム
資料番号: L-60895
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1990. 11. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60896. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60896
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Ni-2Siにはどのgrainの傾きでも.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60897. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60897
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)dnuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60898. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60898
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60899. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60899
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60900. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60900
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60901. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60901
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60902. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60902
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60903. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60903
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60904. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60904
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60905. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60905
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり。顕著ではない。.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60906. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60906
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60907. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60907
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60908. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60908
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ顕著.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60909. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60909
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a 」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60910. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60910
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)b　　デカループあり。Denuded zone多少狭い.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60911. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 7.3K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60911
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

(備考)a,bが両方写るようにした。.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60912. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60912
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)変な面　」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60913. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60913
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60914. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60914
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60915. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60915
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60916. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60916
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60917. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60917
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ目立たない（殆どない）denuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60918. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60918
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61432. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 50K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61432
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61433. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 100K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61433
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61434. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61434
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61435. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61435
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ