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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8772. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8772
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8773. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8773
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8774. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8774
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8775. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8775
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8776. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8776
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8777. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8777
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8778. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8778
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8779. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8779
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8780. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8780
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8781. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8781
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8782. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8782
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8783. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8783
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8784. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8784
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8785. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8785
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8786. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8786
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8787. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8787
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8788. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8788
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8789. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8789
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8790. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8790
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8791. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8791
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8792. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8792
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8793. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8793
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8794. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8794
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8795. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8795
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8796. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8796
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8797. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8797
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8798. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8798
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8799. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8799
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8800. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8800
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8801. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8801
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8802. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8802
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8803. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8803
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8804. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8804
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8805. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8805
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8806. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8806
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8807. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8807
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8808. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8808
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8809. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8809
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8810. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8810
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8811. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8811
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8812. Ni-2Si, R193, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8812
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R193. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8813. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8813
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8814. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8814
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8815. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8815
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8816. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8816
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8817. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8817
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8818. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8818
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8819. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8819
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8820. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8820
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8821. Ni-2Sn, R493, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8821
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R493. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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