義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62169. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 200K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62170. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 200K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62171. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62172. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (条件・倍率等)50K.
(備考)on GB.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62173. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62174. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ミス., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ミス.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62175. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62176. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62177. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62178. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62179. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)st.1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62180. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.
(備考)st.1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62181. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.
(備考)st.1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62182. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)st.1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62183. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.
(備考)st.2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62184. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小~中.
(備考)st.2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62185. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)st.2 すぐ隣.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62186. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)st.2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62187. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1991年2月6日.]
(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.
(備考)」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66675. ?, 20K., [1997年2月27日.]
(試料)?. (条件・倍率等)20K.
(備考)+10.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66676. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+8.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66677. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+12.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66678. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66679. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66680. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66681. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+0やり直し.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66682. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66683. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+8.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66684. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+10.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66685. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+12.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66686. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+15.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66687. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+15重ねどり.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66689. ?., [1997年2月27日.]
(試料)?.
(備考)+0重ねどり.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66700. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66701. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66702. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66703. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66704. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66705. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. A-Si, ED., [1997年2月27日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)CL82. 実験者元記載「小林」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. A-Si, ED., [1997年2月27日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)その1 2s.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. A-Si, ED., [1997年2月27日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)その1 1.4s.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1