義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66770. ?., [1997年4月25日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66771. ?, ED., [1997年4月25日.]
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66772. ?., [1997年4月25日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66773. ?, ED., [1997年4月25日.]
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66774. ?., [1997年4月25日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66775. ?, ED., [1997年4月25日.]
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66776. ED., [1997年4月25日.]
(Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66777. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)200kV X-13 an-70. 日付元記載「6/3」. 実験者元記載「小林」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66778. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66779. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66780. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66781. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66782. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66783. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66784. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-13 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66785. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66786. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66786. JPCAM, A101, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)日付元記載「7/12」. 実験者元記載「堀木」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66787. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66787. JPCAM, A101, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)n=3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66788. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66788. JPCAM, A101, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)n=2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66789. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66789. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66790. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66790. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66791. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-70.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66791. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 100K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66792. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66792. JPCAM, A101, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66793. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66793. JPCAM, A101, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66794. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66794. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66795. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66795. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66796. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66796. JPCAM, A101, 95M-5U, DF, 100K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66797. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-28 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66797. JPCAM, A101, 95M-5U, ED., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A101. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66798. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66798. JPCAM, A111, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66799. (A-Si)Si., [1997年]6/3.
(試料)(A-Si)Si.
(備考)X-0 an-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66799. JPCAM, A111, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)n=3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66800. JPCAM, A111, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66801. JPCAM, A111, 95M-5U, DF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66802. JPCAM, A111, 95M-5U, DF, 100K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66803. JPCAM, A111, 95M-5U, ED., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66804. JPCAM, A111, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)欠陥ぜんぜんない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66805. JPCAM, A111, 95M-5U, BF, 50K., [1997年]7/12.
(試料)JPCAM. (試料番号)A111. (照射条件)95M-5U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1