義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8872. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8873. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0 (4).
(備考)F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8874. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8875. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8876. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)G.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8877. Ag, R685, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R685. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8878. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W.
(備考)(quench).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8879. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8880. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8881. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8882. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8883. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8884. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8885. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8886. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8887. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8888. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)番号ダブり A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8889. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8890. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8891. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8892. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8893. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8894. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8895. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8896. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8897. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, LM., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)LM.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8898. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8899. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8900. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8901. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0(4).
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8902. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8903. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8904. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8905. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8906. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8907. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8908. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8909. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150L., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150L.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8910. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8911. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8912. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)100K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8913. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, 150K., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (条件・倍率等)150K.
(備考)E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8914. Ag, R684, RTNS-II, RT(last), W, ED., [1987年7月21日.]
(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8915. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)e-未照射域 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8916. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8917. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8918. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8919. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8920. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8921. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]
(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)α.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1