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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73453. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73453
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73454. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73454
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73455. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73455
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73456. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73456
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73457. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73457
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73458. Ni-2Sn, N254, 400-U, ミス., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73458
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73459. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73459
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73460. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73460
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73461. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73461
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73462. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73462
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73463. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73463
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73464. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73464
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73465. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73465
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73466. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73466
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73467. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73467
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73468. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73468
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73469. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73469
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Elongated loopのstereo α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73470. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73470
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73471. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73471
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73472. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73473. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73474. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73475. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73476. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73477. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73478. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73479. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73480. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73481. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73482. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Faulted loopとperfect loopのsize比較.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73483. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73484. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73485. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73486. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73487. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73488. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73489. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220?.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73490. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73491. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73492. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73493. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73493
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)111 pole近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73494. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73494
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73495. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73495
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73496. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73496
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73497. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73497
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73498. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73498
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73499. Fe, JMTR, 100℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73499
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73500. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73500
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73501. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73501
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73502. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73502
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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