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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74534. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74534
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74535. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74535
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74536. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74537. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74538. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74539. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74539
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74540. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74540
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74541. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74541
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74542. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74543. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74544. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74545. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74546. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74547. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74548. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74549. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74550. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74551. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74552. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74553. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74554. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74555. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74556. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74557. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74558. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74559. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74560. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74561. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74562. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74563. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74563
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74564. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74564
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74565. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74565
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74566. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74566
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74567. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74567
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下記3枚が組.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74568. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74568
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74569. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74569
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74570. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74570
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74571. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74571
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74572. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74572
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74573. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74573
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74574. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74574
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74575. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74575
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74576. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74576
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74577. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74577
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74578. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74578
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74579. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74579
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74580. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74580
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74581. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74581
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74582. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74582
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74583. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, BF., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74583
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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