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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80154. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80154
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80155. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80155
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT像　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80156. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80156
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　過密　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80158. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80158
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80160. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80160
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80161. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80161
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80162. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80162
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80163. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80163
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80164. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80164
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80165. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80165
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80166. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80166
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80167. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80167
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80168. Cu, HVEM irrad., BF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80168
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)」.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80169. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側　　重ね部. 日付元記載「1992. 1. 14」.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80170. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80171. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80172. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　②.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80173. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　③.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80174. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80175. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80176. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80177. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80178. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側　　マスク　④.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80179. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80180. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑥.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80181. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80182. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80183. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)もう少し厚い側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80184. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80185. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)C-D.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80186. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80187. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80188. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1.5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80189. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80190. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80191. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80192. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80193. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80194. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80195. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80196. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)これが一番いいはず.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80197. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80198. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80199. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D反対側 ①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80200. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80201. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 3K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)3K.

(備考)①＋②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80202. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①＋②ぎりぎり.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80203. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80204. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80205. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, DF, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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