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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80206. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80207. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80207
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B. 日付元記載「1992. 1. 18」.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80208. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80208
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80209. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80209
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80210. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80210
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80211. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80211
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80212. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80212
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80213. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80213
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80214. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80214
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

(備考)C-D.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80215. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80215
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80216. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80216
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D 反対側.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80217. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80217
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80218. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80218
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) A-B Grain a 　α A. 日付元記載「1/19」.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80219. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80219
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80220. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80220
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80221. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80221
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80222. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80222
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80223. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　E.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80224. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80225. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α A,B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80226. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α C,D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80227. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80228. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80229. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain a C,D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80230. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80231. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a β B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80232. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80233. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a 　β F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80234. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a　 β　.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80235. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b A.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80236. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80237. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80238. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80239. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b E.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80240. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain b.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80241. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80242. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80243. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b E.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80244. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain b.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80245. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80246. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80247. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80248. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80249. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80250. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80251. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80252. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c A　以下α.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80253. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80253
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80254. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80254
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80255. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80255
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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