義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80306. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)A-B Grain e.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80307. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.
(備考)マスクあった付近.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80308. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80309. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain a.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80310. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain b.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80311. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain c.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80312. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain c.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80313. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain c.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80314. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain d.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80315. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain d.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80316. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain e.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80317. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain e 傾き少し変える.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80318. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.
(備考)grain e.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80319. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.
(備考)4倍 前半×1000.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80320. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]
(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.
(備考)4倍 後半×1000.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80321. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)A 18MeV Auイオン照射試料予写. 日付元記載「1/29」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80322. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80323. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80324. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80325. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80326. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)fringe.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80327. Cu3Au+Cuマスク, ボツ., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ボツ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80328. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)エッジ落ちた.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80329. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)先端部傾き見るため.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80330. Cu3Au+Cuマスク, ED., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80331. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.
(試料)Cu3Au+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)C部マスク fringe A部マスクと全く同じgrain.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80332. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80333. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)1K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80334. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.
(備考)Z.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80335. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)1K.
(備考)Z.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80336. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80337. Cu+Cuマスク, 3K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)3K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80338. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80339. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)Z ゴミ二つ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80340. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)Z 2度傾斜.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80341. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)5K.
(備考)Y 2度傾斜.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80342. Cu+Cuマスク, 10K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)10K.
(備考)A部マスク.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80343. Cu+Cuマスク, ボツ., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)ボツ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80344. Cu+Cuマスク, ED, 55cm., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80345. Cu+Cuマスク, 10K., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)Z部マスク.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80346. Cu+Cuマスク, ED, 55cm., [1992年1月29日.]
(試料)Cu+Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80347. Au+Au, 5K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)5K.
(備考)A. 日付元記載「1/30」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80348. Au+Au, 5K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)5K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80349. Au+Au, 5K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)5K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80350. Au+Au, 1K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)1K.
(備考)A,B,C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80351. Au+Au., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au.
(備考)A しぼり無し.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80352. Au+Au, 10K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)マスクfringe.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80353. Au+Au, 5K., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)マスクfringe.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80354. Au+Au, ED, 55cm., [1992年]1/30.
(試料)Au+Au. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80355. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射 1E13Au6+/cm2, BF, 5K., [1992年]2/2.
(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射 1E13Au6+/cm2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.
(備考)1/29マスク無領域 D. 日付元記載「2/2」.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1