義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80816. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)多いところ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80817. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80818. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)少ないところ(メッシュの下にあった領域と思われる.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80819. Au蒸着膜, B02, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年]2/11.
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B02. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)少ないところ(メッシュの下にあった領域と思われる.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80820. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80821. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80822. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80823. Au蒸着膜, B01, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B01. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80824. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, DF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80825. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, DF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80826. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, BF, 100K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80827. Au蒸着膜, B06, 21MeV Au6+, BF, 50K., [1992年2月11日.]
(試料)Au蒸着膜. (試料番号)B06. (照射条件)21MeV Au6+. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80828. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF, 100K., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α A. 日付元記載「1992. 2. 13」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80829. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80830. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80831. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80832. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80833. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80834. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80835. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80836. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80837. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80838. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80839. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80840. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80841. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80842. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80843. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80844. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80845. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80846. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80847. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80848. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80849. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80850. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80851. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80852. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80853. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80854. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., 1992. 2. 13.
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80855. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80856. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80857. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80858. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α E.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80859. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80860. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80861. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80862. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, BF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80863. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80864. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, ED., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α F.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80865. Au, Au6+(21MeV), Masked Inv, DF., [1992年2月13日.]
(試料)Au. (照射条件)Au6+(21MeV). (照射量)Masked Inv. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α F.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1