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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80920. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80920
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3min50sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80921. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80921
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)9min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80922. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80922
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)途中でやめた.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80923. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80923
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80924. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80924
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80925. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80925
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)63min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80926. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80926
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80927. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80927
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80928. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80928
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)交差付近. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80929. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80929
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80930. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80930
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80931. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80931
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)すぐ上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80932. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80932
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80933. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80933
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80934. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80934
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80935. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80935
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)3段になっているところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80936. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80936
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)単相のところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80937. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80937
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80938. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80938
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80939. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80939
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)すぐ下.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80940. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80940
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　GB近く.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80941. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80941
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80942. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80942
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80943. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80943
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80944. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80944
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なり前.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80945. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80945
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)見える.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80946. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80946
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)完全に重なり　見えない.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80947. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80947
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80948. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80948
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80949. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80949
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80950. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80950
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80951. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80951
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80952. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80952
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80953. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80953
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80954. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80954
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80955. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80955
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80956. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80956
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80957. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80957
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左の交差部分　　」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80958. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)試料の重なったところ. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80959. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)58と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80960. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80961. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)60と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80962. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80963. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62の都築少し内部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80964. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)63と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80965. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80966. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80967. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)66と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80968. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80969. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)68と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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