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義家, 敏正, 1948-

 個人

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81019. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81019
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)フイルム動かなかった.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81020. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 50K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81020
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)壁　013に近い.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81021. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分 カバー多.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81022. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分　下の部分多.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81023. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右交差.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81024. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81025. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81026. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81027. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 20K., [1992年]2/26.

 アイテム
資料番号: L-81027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)20K.

(備考)カバーの方の等圧干渉じま.

日付: [1992年]2/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81028. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81029. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81030. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81031. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81032. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81032
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81033. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81033
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)横.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81034. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81034
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81035. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81035
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81036. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81036
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81037. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81037
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81038. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81038
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81039. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81039
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81040. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81040
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81041. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81041
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81042. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81042
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81043. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81043
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81044. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81044
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81045. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81045
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)細かい.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81046. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81046
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じところ.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81047. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81047
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じところ.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81048. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81048
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81049. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81049
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81050. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81050
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81051. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ×., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81051
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81052. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81052
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81053. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81053
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81054. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81054
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B.

(備考)シャッター不良.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81055. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81055
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81056. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81056
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81057. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ED., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81057
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81058. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, 100., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81058
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (条件・倍率等)100.

(備考)dot測定用.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81060. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81060
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左側交差. 日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81061. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81061
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)右側交差.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81062. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 50K., [1992年]2/27.

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資料番号: L-81062
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81063. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81063
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81064. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 失敗., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81064
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)失敗.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81065. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81065
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81066. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81066
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)露光不足？.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81067. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81067
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81068. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81068
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)67に同じ.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81069. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81069
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)GBをはさんで差はない.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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