義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81070. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81071. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81072. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81073. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)A ステレオ 面が合わない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81074. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)面が合わない.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81075. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)GB付近.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81076. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81077. Ni, 0.5MeV He+ 照射 6μA, 50K., [1992年]2/27.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射 6μA. (条件・倍率等)50K.
(備考)GBの差のないところ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81095. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)日付元記載「3/7」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81096. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81097. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
(備考)ビ－ムカット.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81098. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81099. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81100. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81101. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
(備考)ビームカットされる（フィルム動く）.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81102. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)100と同じ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81103. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)良く見えるところ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81104. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)上と同じ場所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81105. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81106. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.
(備考)下と同じ場所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81107. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.
(備考)上と同じ場所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81108. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
(備考)フイルム送りトラブル.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81109. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
(備考)singleでも時間がたつとダメ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81110. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81111. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81112. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81113. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81114. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.
(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).
(備考)フイルム送りトラブル 中止.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81115. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料.
(備考)カラ送りテスト. 日付元記載「3/12」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81116. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)下と同じ場所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81117. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)上と同じ場所.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81118. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DFF., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DFF. (反射ベクトルg)(110)＜100＞.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81119. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)組織がこわれている？.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81120. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)（反射がうまくでない）.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81121. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DFF., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DFF. (反射ベクトルg)(013).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81122. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 30K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)別のところ GB近く.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81123. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 30K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.
(備考)別のところ GB近く.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81124. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 50K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
(備考)面が合わせにくい.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81125. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 50K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)面が合わせにくい.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81126. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.
(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)-100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
(備考)多数の細かいdot.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81127. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)日付元記載「3/24」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81128. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81129. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81130. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81131. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81132. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81133. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81134. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81135. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81136. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.
(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
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- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1