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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81239. V, JMTR, 200℃-Improved, ED, 55cm., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81239
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Improved. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81240. V, JMTR, 200℃-Common, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81240
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81241. V, JMTR, 200℃-Common, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81241
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81242. V, JMTR, 200℃-Common, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81242
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81243. V, JMTR, 200℃-Common, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81243
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81244. V, JMTR, 200℃-Common, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81244
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81245. V, JMTR, 200℃-Common, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81245
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81246. V, JMTR, 200℃-Common, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81246
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81247. V, JMTR, 200℃-Common, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81247
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-Common. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81248. V, JMTR, 200℃-U, ED., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81248
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2本とばし. 日付元記載「3/30」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81249. V, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81249
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)界面.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81250. V, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81250
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)すこし内.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81251. V, JMTR, 200℃-U, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81251
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)50に同じ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81252. V, JMTR, 200℃-U, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81252
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もう少し中.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81253. V, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81253
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)52に同じ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81254. V, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81254
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81255. V, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81255
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81256. V, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81256
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)すこし内.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81257. V, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81257
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)すこし内.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81258. V, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81258
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じところ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81259. V, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81259
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じところ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81260. V, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81260
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じところ　転位の少ないところ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81261. V, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81261
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じところ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81262. V, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81262
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81263. V, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81263
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81264. V, JMTR, 200℃-U, BF, 20K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81264
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)クラスター多し.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81265. V, JMTR, 200℃-U, DF, 20K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81265
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)　.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81266. V, JMTR, 200℃-C, BF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81266
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81267. V, JMTR, 200℃-C, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81267
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81268. V, JMTR, 200℃-C, DF, 50K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81268
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)よく見える.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81269. V, JMTR, 200℃-C, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81269
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)何も見えない　はずしすぎ.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81270. V, JMTR, 200℃-C, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81270
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81271. V, JMTR, 200℃-C, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81271
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81272. V, JMTR, 200℃-C, DF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81272
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)sは大きくはずした方がよい.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81273. V, JMTR, 200℃-C, BF, 100K., [1992年]3/30.

 アイテム
資料番号: L-81273
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と対　　ビームの入り方がすこしちがう.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81274. V, JMTR, 200℃-C, DF, 100K., [1992年]3/30.

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資料番号: L-81274
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と対.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81275. V, JMTR, 200℃-C, BF, 100K., [1992年]3/30.

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資料番号: L-81275
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)転位が良く見えるようにした.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81276. V, JMTR, 200℃-C, DF, 100K., [1992年]3/30.

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資料番号: L-81276
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ほぼ同じところ　s＞＞0だと見えにくい.

日付: [1992年]3/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81301. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81301
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部. 日付元記載「4/7」.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81302. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

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資料番号: L-81302
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81303. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

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資料番号: L-81303
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81304. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

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資料番号: L-81304
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81305. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81305
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81306. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81306
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81307. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81307
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81308. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81308
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81309. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81309
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81310. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81310
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81311. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81311
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81312. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81312
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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