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義家, 敏正, 1948-

 個人

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81984. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81984
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81985. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81985
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81986. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81986
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81987. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81987
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81988. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81988
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81989. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81989
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81990. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81990
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81991. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81991
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81992. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81992
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81993. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81993
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81994. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81994
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-1. 日付元記載「7/16」.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81995. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81995
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81996. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81996
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81997. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81997
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81998. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81998
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81999. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81999
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82000. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82000
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82001. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82001
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82002. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82002
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82003. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82003
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82004. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82004
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82005. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82005
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82006. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82006
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82007. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82007
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82008. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82008
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) 7-3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82009. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82009
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 5-4.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82010. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82010
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-4.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82011. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82011
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-5.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82012. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82012
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 7-5.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82013. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82013
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82014. Cu, Cuイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82014
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82015. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82015
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 10-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82016. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82016
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 10-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82017. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82017
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 11-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82018. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82018
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 11-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82019. Cu, Cuイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82019
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) 11-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82020. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82020
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 7-6.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82021. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82021
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 8-1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82022. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82022
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 8-2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82023. Cu, Cuイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-82023
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考) 8-3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82024. V, 150℃, BF, 50K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82024
範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「7/17」. 実験者元記載「井上」.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82025. V, 150℃, BF, 100K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82025
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82026. V, 150℃, BF, 100K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82026
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82027. V, 150℃, BF, 100K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82027
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82028. V, 150℃, 100K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82028
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82029. V, 150℃, 100K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82029
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82030. V, 150℃, 100K., [1992年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-82030
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82031. V, 150℃, 50K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82031
範囲と内容

(試料)V. (照射温度)150℃. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82036. D-1, DF, 10K., [1992年]7/17.

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資料番号: L-82036
範囲と内容

(試料番号)D-1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

(備考)マスク照射　マスクされていた方, 傷の無い方. 日付元記載「7/17」.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82037. D-1, DF, 10K., [1992年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-82037
範囲と内容

(試料番号)D-1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1992年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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