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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84366. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84366
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e-irrd前　α-13.5黒12-15（300）A. 日付元記載「11/26」.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84367. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84367
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84368. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84368
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84369. Cu, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84369
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84370. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84370
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84371. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84371
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84372. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84372
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84373. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84373
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-11黒6-9（160）A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84374. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84374
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84375. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84375
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84376. Cu, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84376
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84377. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84377
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84378. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84378
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84379. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84379
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84380. Cu, Cuイオン照射120keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84380
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-14黒15-18（80）A. 日付元記載「11/27」.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84381. Cu, Cuイオン照射121keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84381
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射121keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84382. Cu, Cuイオン照射122keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84382
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射122keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84383. Cu, Cuイオン照射123keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84383
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射123keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C　.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84384. Cu, Cuイオン照射124keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84384
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射124keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　AとCの間.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84385. Cu, Cuイオン照射125keV+e-irrd後, ED., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84385
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射125keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84386. Cu, Cuイオン照射126keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84386
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射126keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84387. Cu, Cuイオン照射127keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84387
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射127keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84388. Cu, Cuイオン照射128keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84388
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射128keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C　.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84389. Cu, Cuイオン照射129keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84389
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射129keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-8黒9　A.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84390. Cu, Cuイオン照射130keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84390
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射130keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84391. Cu, Cuイオン照射131keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84391
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射131keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84392. Cu, Cuイオン照射132keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84392
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射132keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　AとCの間.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84393. Cu, Cuイオン照射133keV+e-irrd後, ED., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84393
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射133keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84394. Cu, Cuイオン照射134keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84394
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射134keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　A.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84395. Cu, Cuイオン照射135keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84395
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射135keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84396. Cu, Cuイオン照射120keV+e-irrd後, BF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84396
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84397. Ni., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84397
範囲と内容

(試料)Ni. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｇの正負　おくり　Con3　①（200）　α. 日付元記載「11/30（月）」. 実験者元記載「大浦」.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84398. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84398
範囲と内容

(条件・倍率等)100K.

(備考)①αくらめ.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84399. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84399
範囲と内容

(条件・倍率等)100K.

(備考)①α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84400. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84400
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)①α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84401. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84401
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)①α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84402., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84402
範囲と内容

(備考)①α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84403. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84403
範囲と内容

(条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)①β（200）.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84404. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84404
範囲と内容

(条件・倍率等)100K.

(備考)①β.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84405. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84405
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)①β.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84406. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84406
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)①βこちらの方がS＝0に近い気がする.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84407. ED., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84407
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①β.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84408. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84408
範囲と内容

(条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)②α（200）.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84409. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84409
範囲と内容

(条件・倍率等)100K.

(備考)②α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84410. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84410
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)②α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84411. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84411
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)②α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84412. ED., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84412
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)ED.

(備考)②α.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84413. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84413
範囲と内容

(条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)②β（200）.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84414. 100K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84414
範囲と内容

(条件・倍率等)100K.

(備考)②β.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84415. 150K., [1992年]11/30（月）.

 アイテム
資料番号: L-84415
範囲と内容

(条件・倍率等)150K.

(備考)②β.

日付: [1992年]11/30（月）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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