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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84820. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84821. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84822. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84823. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84824. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84825. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84826. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84827. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84828., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84828
範囲と内容

(備考)日付元記載「12/12」.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84829. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84829
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋16赤5（180）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84830. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84830
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84831. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84831
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84832. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84832
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84833. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84833
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84834. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84834
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84835. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84835
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84836. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84836
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84837. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84837
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84838. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84838
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84839. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84839
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋24黒1（40）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84840. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84840
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84841. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84841
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84842. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84842
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84843. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84843
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84844. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84844
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84845. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84845
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84846. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84846
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84847. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84847
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84848. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84848
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84849. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84849
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84850. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84850
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84851. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84851
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84852. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84852
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　22黒6（340）. 日付元記載「12/12」. 実験者元記載「Kiz」.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84853. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84853
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84854. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84854
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84855. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84855
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84856. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84856
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84857. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84857
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84858. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84858
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84859. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84859
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　306（300）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84860. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84860
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84861. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84861
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84862. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84862
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84863. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84863
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84864. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84864
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84865. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84865
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84866. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84866
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84867. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84867
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84868. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84868
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84869. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84869
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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