義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84973. Ni, DF., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)①β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84974. Ni, ED., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)①α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84975. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)①β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84976. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.
(備考)②α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84977. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)②β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84978. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.
(備考)③α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84979. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84980. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)①β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84981. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84982. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)S>>>0.
(備考)① Max.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84983. Ni, ED., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84984. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)②β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84985. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84986. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s=1.5.
(備考)② best.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84987. Ni, ED., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84988. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s~0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84989. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)③β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84990. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84991. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84992. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)①β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84993. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84994. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84995. Ni, ED., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84996. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)②β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84997. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)② おく.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84998. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84999. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.
(備考)② おく.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85000. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85001. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)おく.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85002. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)gの正負 ③?. 日付元記載「12/14」. 実験者元記載「大浦」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85003. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③右.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85004. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85005. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③右.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85006. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85007. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③右.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85008. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85009. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85010. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85011. Ni, ED., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)①.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85012. Ni, 100K., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85013. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)②左.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85014. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)②.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85015. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)②左.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85016. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)③.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85017. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③右へ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85018. Ni., [1992年]12/14.
(試料)Ni.
(備考)③右との中間.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85019. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.
(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.
(備考)nomal α A. 日付元記載「12/15」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85020. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.
(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)nomal α A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85021. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.
(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)nomal α B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85022. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.
(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)nomal α A.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
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- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
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- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
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