義家, 敏正, 1948-
63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85427. V, G310, JMTRサイクルII-A, 30K., [1992年]12/23.
(試料)V. (試料番号)G310. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)同じところ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85428. V, G310, JMTRサイクルII-A, 30K., [1992年]12/23.
(試料)V. (試料番号)G310. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85429. V, G310, JMTRサイクルII-A, 20K., [1992年]12/23.
(試料)V. (試料番号)G310. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85430. V, BF, 100K., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)annealing実験α-10.0赤4(200)A. 日付元記載「12/25」. 実験者元記載「桐谷, 井関, 西畑」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85431. V, DF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)αB.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85432. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)αD.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85433. V, ED., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85434. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)Exp.Miss β0.0赤2(80).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85435. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)Exp.Miss β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85436. V, BF, 100K., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)βC.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85437. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)βD.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85438. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)βD.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85439. V, ED., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85440. V, BF, 100K., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)βA.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85441. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)βB.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85442. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)βB.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85443. V, ED., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85444. V, BF, 100K., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85445. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85446. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85447. V, BF., [1992年]12/25.
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85448. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)100℃ 10min Anneal Aの左.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85449. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85450. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85451. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85452. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85453. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)150℃ 10min anneal 318mA 2.34mV A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85454. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85455. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85456. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85457. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)200℃ 10min anneal 350mA 3.108mV A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85458. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85459. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85460. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85461. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)250℃ 10min anneal 380mA 4.01mV A.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85462. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)B.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85463. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)C.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85464. V, BF, 100K., [1992年12月25日.]
(試料)V. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
(備考)D.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85465. V., [1992年12月25日.]
(試料)V.
(備考)300℃ 10min anneal.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85469. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)nomal. 日付元記載「12/26」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85470. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)nomal 明.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85471. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order 明.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85472. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order 暗.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85473. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85474. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85475. Cu, Cuイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order 中心.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85476. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.
(備考)order.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85477. Cu, Cuイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)nomal.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85478. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)order.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85479. Cu, Cuイオン照射, ED., [1992年]12/26.
(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)Dark spotセンターの下.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
- ニッケル 11193
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
- 銅 7814
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
- 金 6400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
- 銅合金 2962
- 銀 2835
- ステンレス鋼 2785
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
- 鉄 2479
- ニッケル合金 2219
- バナジウム 1948
- 鉄合金 1400
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
- ムライト 247
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 225
- アルミニウム 129
- ゲルマニウム 85
- ノート 63
- 材料試験 63
- 記録ノート Notebooks 63
- 電子顕微鏡 63
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 55
- 炭化珪素 54
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
- 珪素 6
- Collection 1
- アルミニウム合金 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1