メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9472. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9473. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9474. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9475. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9476. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9477. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9478. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9479. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9480. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9481. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9482. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9483. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9484. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9485. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9486. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9487. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9488. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9489. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9490. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9491. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9492. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9493. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9494. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9494
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9495. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9495
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9496. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9496
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9497. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9497
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9498. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9498
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9499. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9499
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9500. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9500
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9501. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9501
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9502. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9502
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9503. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9503
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9504. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9504
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ特になし.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9505. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9505
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9506. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9506
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9507. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9507
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9508. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9508
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9509. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9509
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9510. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9510
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9511. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9511
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9512. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9512
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9513. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9513
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9514. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9514
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9515. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9515
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9516. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9516
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9517. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9517
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9518. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9518
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9519. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9519
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β-10.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9520. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9520
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9521. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9521
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ