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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88074. Ni, LAMPF, DF, 20K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88074
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88075. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88075
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88076. Ni, LAMPF, BF, 50K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88076
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88077. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88077
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前項つづき. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88078. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88078
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88079. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88079
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-3黒6（100）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88080. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88080
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88081. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88081
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88082. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88082
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)-3　0（340）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88083. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88083
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　かさね失敗.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88084. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88084
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88085. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88085
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β-2赤6（40）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88086. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88086
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88087. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88087
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88088. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88088
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88089. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88089
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88090. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88090
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　0黒6（120）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88091. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88091
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88092. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88092
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　-7赤0（200）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88093. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88093
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88094. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88094
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88095. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88095
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88096. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88096
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-32赤0（140）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88097. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88097
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88098. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88098
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88099. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88099
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　-32赤0（260）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88100. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88100
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　-26赤0（160）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88101. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88101
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88102. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88102
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88103. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88103
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　-26赤6（40）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88104. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88104
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88105. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88105
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88106. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88106
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88107. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88107
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-3赤0（120）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88108. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88108
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88109. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88109
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88110. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88110
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88111. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88111
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　-3　0（0）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88112. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88112
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88113. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88113
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　＋5.5赤0（260.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88114. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88114
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88115. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88115
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88116. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88116
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88117. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88117
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β　＋5.5黒0（80）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88118. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88118
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88119. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88119
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　-2黒0（340）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88120. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88120
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88121. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88121
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.8.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88122. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88122
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　＋7黒0（40）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88123. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88123
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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