義家, 敏正, 1948-

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93524. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93524

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93525. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93525

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93526. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93526

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93527. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93527

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　②.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93528. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93528

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93529. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93529

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93530. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93530

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　②.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93531. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93531

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93532. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93532

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93533. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93533

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)別の場所(歪）.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93534. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93534

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　7赤8（160）　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93535. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93535

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　①同じ場所.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93536. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93536

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　バウウダリ.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93537. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93537

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93538. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93538

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　バウンダリ.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93539. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93539

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93540. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93540

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　バウンダリ.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93541. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93541

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93542. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93542

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93543. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93543

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　-1赤6（340）.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93544. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93544

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93545. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93545

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　ビーム広げえ.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93546. Cu, Ne ion照射233MeV, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93546

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　絞り入れ直し.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93547. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93547

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93548. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93548

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93549. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93549

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　-6青4（100）.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93550. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93550

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93551. Cu, Ne ion照射233MeV, DF., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93551

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93552. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93552

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　-6青4（100）青4（100）.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93553. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93553

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93554. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93554

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　-1赤6（340）赤6（20９.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93555. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93555

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.6.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93556. Cu, Ne ion照射233MeV, DF., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93556

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93557. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93557

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93558. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93558

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2～2.5.

(備考)別グレイン.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93559. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93559

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2～2.5.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93560. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93560

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93561. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93561

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93562. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93562

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93563. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93563

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93564. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93564

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93565. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93565

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93566. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93566

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93567. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93567

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93568. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93568

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93570. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

アイテム

資料番号: L-93570

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)日付元記載「3/19」. 実験者元記載「飯吉」.

日付: [1994年]3/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93571. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

アイテム

資料番号: L-93571

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1994年]3/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93572. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

アイテム

資料番号: L-93572

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　＋14黒3（280）.

日付: [1994年]3/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93573. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

アイテム

資料番号: L-93573

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1994年]3/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93574. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, ED., [1994年]3/19.

アイテム

資料番号: L-93574

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]3/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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