義家, 敏正, 1948-

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94640. Ni, N102, JMTR, 350℃, 30K., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94640

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (条件・倍率等)30K.

(備考)g～h.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94641. Ni, N102, JMTR, 350℃, 30K., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94641

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (条件・倍率等)30K.

(備考)g～h.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94642. Ni, N102, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94642

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)h～i.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94643. Ni, N102, JMTR, 350℃., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94643

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)i～j.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94644. Ni, N102, JMTR, 350℃., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94644

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)j～k.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94645. Ni, N102, JMTR, 350℃., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94645

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)j～k.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94646. Ni, N102, JMTR, 350℃., [1994年]5/30~5/31.

アイテム

資料番号: L-94646

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)k～A.

日付: [1994年]5/30~5/31.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94647. Al, 照射, BF, 30K., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94647

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)0:00. 日付元記載「6/1」.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94648. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94648

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)3:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94649. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94649

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)6:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94650. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94650

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)9:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94651. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94651

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)12:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94652. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94652

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)15:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94653. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94653

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)0:00.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94654. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94654

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)1:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94655. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94655

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)3:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94656. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94656

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)9:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94657. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94657

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)12:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94658. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94658

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)15:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94659. Al, 照射., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94659

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射.

(備考)18:30.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94660. Al, 照射, ED., [1994年]6/1.

アイテム

資料番号: L-94660

範囲と内容

(試料)Al. (照射条件)照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94661., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94661

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94662., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94662

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94663., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94663

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94664., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94664

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94665., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94665

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94666., [1994年6月1日.]

アイテム

資料番号: L-94666

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年6月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94667. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94667

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)日付元記載「1994 6/8」. 実験者元記載「石政, 甲田」.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94668. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94668

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (反射ベクトルg)　0　0　1.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94669. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94669

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94670. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94670

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94671. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94671

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94672. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94672

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94673. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, 100K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94673

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94674. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, ED., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94674

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94675. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94675

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94676. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94676

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94677. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94677

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94678. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 100K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94678

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94679. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 100K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94679

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94680. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94680

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94681. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94681

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94682. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94682

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94683. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94683

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94684. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94684

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94685. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃, BF, 50K., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94685

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94686. Ni-2Sn, 981？, JMTR, 120℃., 1994 6/8.

アイテム

資料番号: L-94686

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)981？. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)練習.

日付: 1994 6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94687. JPCAM, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/8.

アイテム

資料番号: L-94687

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)JMTR　100℃照, e-照射後　α　0赤（16-24　280）. 日付元記載「6/8」.

日付: [1994年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94688. JPCAM, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/8.

アイテム

資料番号: L-94688

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94689. JPCAM, e-照射, ED., [1994年]6/8.

アイテム

資料番号: L-94689

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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