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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94790. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, BF, 50K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94790
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)β　disl.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94791. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, BF, 50K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94791
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)α　disl.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94792. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, BF, 30K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94792
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)α　-8赤30（60）disl.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94793. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, 100K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94793
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)β　-3　24（0）.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94794. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, DF, 100K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94794
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　＋3赤12（200）.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94795. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, ED., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94795
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94796. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, BF, 100K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94796
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94797. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, DF, 100K., [1994年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-94797
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94798. Ni-2Cu, e-照射, BF, 100K., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94798
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「6/18 (土)」. 実験者名らしきものが記載されているが読めず.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94799. Ni-2Cu, e-照射, BF, 100K., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94799
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94800. Ni-2Cu, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94800
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94801. Ni-2Cu, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94801
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94802. Ni-2Cu, e-照射, ED., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94802
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94803. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

 アイテム
資料番号: L-94803
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋20赤24（0）.

日付: [1994年]6/18 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94804. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94804
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. 日付元記載「6/18」. 実験者元記載「Kizuka」.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94805. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94805
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94806. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94806
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋25赤18（0）.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94807. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94807
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94808. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94808
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94809. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94809
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94810. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94810
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α＋20赤6（240）.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94811. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94811
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94812. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94812
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94813. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94813
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　＋13赤12（340）.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94814. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94814
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94815. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94815
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94816. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

 アイテム
資料番号: L-94816
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94817. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94817
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋10黒0（340）. 日付元記載「1994 6/18」.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94818. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94818
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94819. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94819
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94820. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94820
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋5黒6（140）.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94821. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94821
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94822. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94822
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94823. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94823
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94824. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 30K., 1994 6/18.

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資料番号: L-94824
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)隣のgrain（ref）.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94825. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

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資料番号: L-94825
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94826. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94826
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94827. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94827
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94828. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94828
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94829. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94829
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94830. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94830
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

(備考)失敗.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94831. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94831
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋25黒0（100）.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94832. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94832
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94833. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94833
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94834. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94834
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94835. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94835
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋20黒6（240）.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94836. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94836
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94837. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94837
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94838. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94838
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94839. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

 アイテム
資料番号: L-94839
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じgrain別視野　.

日付: 1994 6/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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