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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13250. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13250
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13251. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13251
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13252. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13252
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13253. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13253
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13254. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13254
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13255. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13255
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13256. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13256
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13257. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13257
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13258. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13258
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13259. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13259
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13260. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13260
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13261. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13261
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13262. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13262
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13263. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13263
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13264. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13264
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13265. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13265
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13266. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13266
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13267. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13267
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13268. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13268
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13269. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13269
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13270. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13270
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13271. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13271
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13272. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13272
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13273. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13273
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13274. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13274
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13275. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13275
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13276. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13276
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13277. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13277
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13278. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13278
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13279. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13279
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13280. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13280
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13281. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13281
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13282. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13282
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13283. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13283
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13284. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13284
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13285. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13285
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13286. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13286
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13287. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13287
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13288. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13288
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13289. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13289
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13290. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13290
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13291. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13291
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13292. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13292
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13293. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13293
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13294. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13294
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13295. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13295
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13296. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13296
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13297. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13297
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13298. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13298
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13299. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13299
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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