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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14029. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14029
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14030. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 50K?., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14030
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K?. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14031. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14031
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14032. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14032
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14033. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14033
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14034. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14034
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14035. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14035
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14036. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14036
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14037. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14037
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14038. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14038
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14039. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14039
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14040. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14040
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14041. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14041
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14042. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14042
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14043. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14043
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14044. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14044
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14045. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14045
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14046. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14046
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14047. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14047
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14048. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14048
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14049. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14049
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14050. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14050
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14051. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14051
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14052. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14052
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14053. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14053
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14054. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14054
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)size用.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14055. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14055
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)size用.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14056. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14056
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14057. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14057
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)以上全て同じGrain.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14058. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14058
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14059. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14059
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14060. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14060
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14061. Cu-2Ge, G136, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14061
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G136. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)隣.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14062. Ni, B177, RTNS-II, 200℃ , SS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14062
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃ . (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14063. Ni, B177, RTNS-II, 200℃ , SS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14063
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃ . (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)boundaryしかし厚さ変化していた.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14064. Ni, B177, RTNS-II, 200℃ , SS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14064
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃ . (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14065. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14065
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundaryから遠い中の部分.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14066. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14066
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundaryから遠い中の部分.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14067. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14067
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundaryから遠い中の部分.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14068. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14068
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Boundaryから遠い中の部分.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14069. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14069
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14070. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14070
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14071. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14071
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14072. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14072
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14073. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14073
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14074. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14074
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14075. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14075
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14076. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14076
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14077. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14077
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14078. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14078
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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