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義家, 敏正, 1948-

 個人

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14230. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14230
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14231. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14231
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14232. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14232
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14233. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14233
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14234. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14234
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14235. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14235
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14236. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14236
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14237. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14237
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14238. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14238
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14239. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14239
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14240. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14240
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14241. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14241
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14242. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14242
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14243. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14243
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14244. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14244
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14245. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14245
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14246. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14246
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14247. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14247
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14248. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14248
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)以下4枚　st.1とst.2の間.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14249. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14249
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14250. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14250
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14251. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14251
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14252. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14252
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)３つ外し.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14253. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14253
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14254. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14254
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14255. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14255
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14256. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14256
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14257. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14257
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14258. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14258
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)３つよりやや大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14259. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14259
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14260. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14260
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)終点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14261. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14261
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14262. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14262
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14263. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14264. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14264
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14265. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14265
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14266. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14266
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14267. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14267
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)5 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14268. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14268
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14269. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14269
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14270. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14270
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14271. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14271
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14272. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14272
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14273. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14273
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14274. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14274
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14275. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14275
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0(α側）.

(備考)1の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14276. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14276
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14277. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14277
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14278. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14278
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4と1の間（近い所にある）.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14279. Cu, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 20K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14279
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.0 厚い.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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