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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14480. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14480
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1に近い　A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14481. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14481
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14482. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14482
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14483. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14483
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14484. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14484
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14485. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14485
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14486. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14486
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14487. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14487
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14488. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14488
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14489. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14489
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14490. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14490
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14491. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14491
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14492. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14492
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14493. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14493
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14494. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14494
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14495. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14495
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14496. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14496
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14497. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14497
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14498. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14498
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14499. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14499
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14500. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14500
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14501. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14501
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14502. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14502
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14503. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14503
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14504. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14504
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14505. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14505
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14506. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14506
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14507. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14507
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14508. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14508
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14509. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14509
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14510. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14510
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 E.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14511. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14511
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 F　　以上全部同一Grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14512. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14512
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14513. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14513
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14514. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14514
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14515. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14515
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14516. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14516
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)I.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14517. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14517
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14518. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14518
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14519. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14519
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14520. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14520
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)H?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14521. Ni, Ae901, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14521
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)contami べっとり　だめ.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14522. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14522
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下30まで　デモ用SFT.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14523. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14523
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14524. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14524
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14525. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14525
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14526. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14526
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14527. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14527
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14528. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14528
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14529. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14529
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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