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義家, 敏正, 1948-

 個人

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14530. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14530
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14531. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14531
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14532. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14532
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14533. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14533
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14534. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14534
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14535. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14535
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14536. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14536
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14537. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14537
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14538. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14538
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14539. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14539
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14540. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14540
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14541. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14541
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14542. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14542
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14543. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14543
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14544. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14544
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14545. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14545
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14546. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14546
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14547. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14547
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14548. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14548
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14549. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14549
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側のs＝0 始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14550. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14550
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14551. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14551
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)終点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14552. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14552
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14553. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14553
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14554. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14554
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14555. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14555
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14556. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14556
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14557. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14557
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14558. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14558
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14559. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14559
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14560. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14560
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14561. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14561
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14562. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14562
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14563. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14563
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14564. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14564
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14565. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14565
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14566. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14566
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14567. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14567
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14568. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14568
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以上は全て同じGrain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14569. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14569
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14570. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14570
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14571. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14571
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14572. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14572
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14573. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14573
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14574. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14574
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H→G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14575. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14575
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14576. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14576
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14577. Cu, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14577
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い　st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14578. Cu, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14578
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14579. Cu, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14579
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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