メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14925. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14925
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14926. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14926
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑　B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14927. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14927
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)繰り返し照射.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14928. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14928
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14929. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14929
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14930. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14930
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14931. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14931
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14932. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14932
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14933. Ni, 909, RTNS-II, RT, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14933
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14934. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14934
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14935. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14935
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14936. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14936
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14937. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14937
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14938. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14938
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14939. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14939
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14940. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14940
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)以下別Grain.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14941. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14941
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14942. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14942
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14943. Ni, 909, RTNS-II, RT, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14943
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14944. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14944
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14945. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14945
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14946. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14947. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14947
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)繰り返し照射　A　　三つはずし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14948. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14948
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14949. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14949
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14950. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14950
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14951. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14951
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14952. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14952
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14953. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14953
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14954. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14954
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14955. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14955
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14956. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14956
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14957. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14957
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14958. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14958
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14959. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14959
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14960. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14960
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14961. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14961
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　だんだん勾配きつくなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14962. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14962
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　フリンジの幅狭くなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14963. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14963
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14964. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14964
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14965. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14965
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14966. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14966
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14967. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14967
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14968. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14968
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14969. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14969
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14970. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14970
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B ごみ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14971. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14971
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14972. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14972
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14973. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14973
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14974. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14974
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ