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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

17 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41747. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41747
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A. 日付元記載「1989. 6. 9.」. 実験者元記載「M.K.」.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41748. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41748
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A over.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41749. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41749
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A under.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41750. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41750
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41751. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ED., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41751
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41752. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41752
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41753. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41753
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41754. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41754
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41755. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41755
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41756. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ED., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41756
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41757. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ミス., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41757
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41758. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41758
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41759. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41759
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41760. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41760
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41761. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41761
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41762. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41762
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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  • 主題: 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 X

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 16
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 16
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ゲルマニウム 1
ステンレス鋼 1
ニッケル 1
ニッケル合金 1
ノート 1
バナジウム 1
ムライト 1
モリブデン 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
材料試験 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
記録ノート Notebooks 1
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1
金 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄 1
鉄合金 1
銀 1
銅 1
銅合金 1
電子顕微鏡 1

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