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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

36 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3867. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3867
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3955. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3955
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3968. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3977. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4268. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4268
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8564. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8564
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　 β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8569. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8569
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8574. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8574
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8580. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8580
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8585. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8585
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8590. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8590
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8594. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8594
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8597. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8597
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8602. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8602
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8664. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8668. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8668
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8675. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8675
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)絞り3番.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8678. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8678
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8681. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8681
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8684. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8684
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8691. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8691
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8694. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8694
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8697. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8697
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16726. Au, Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS., [1986年1月15日.]

 アイテム
資料番号: O-16726
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS.

日付: [1986年1月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16905. Au, G57 Kuramoto, RTNS-II, 150℃, SS., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16905
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G57 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

(備考)←　細3.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21250. Au, G251, RTNS-II, 90℃, S., s '61/3/11.

 アイテム
資料番号: O-21250
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G251. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: s '61/3/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21258. Au, G281, RTNS-II, 90℃, W., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21258
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G281. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)W.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21292. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21292
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27639. EM, 200℃, W, DF, 100K., [1986年7月29日.]

 アイテム
資料番号: O-27639
範囲と内容

(EM/D3)A565. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年7月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28770. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28770
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29282. Cu-2Ni, G741, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.]

 アイテム
資料番号: O-29282
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)disl 上と同じdisl条件.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29341. Cu-0.3Ge, G641, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.]

 アイテム
資料番号: O-29341
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G641. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29444. Ni, N312, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.]

 アイテム
資料番号: O-29444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N312. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33445. Cu, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33445
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-41988. Au, G017　Hin, RTNS-II, 90℃, WW., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-41988
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G017　Hin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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  • 主題: 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) X

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 35
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 35
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 32
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 24
ニッケル 17
金 16
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 6
銅合金 3
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 2
銅 2
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ゲルマニウム 1
ステンレス鋼 1
ニッケル合金 1
ノート 1
バナジウム 1
ムライト 1
モリブデン 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
材料試験 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
記録ノート Notebooks 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄 1
鉄合金 1
銀 1
電子顕微鏡 1

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