桐谷, 道雄, 1932-2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93403. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93403

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93404. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93404

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93405. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93405

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93406. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93406

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)A γ　-7.5　赤17（100）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93407. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93407

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93408. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93408

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93409. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93409

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93410. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93410

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93411. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93411

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93412. Ag, LAMPF, BF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93412

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93413. Ag, LAMPF, DF, 20K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93413

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93414. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93414

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93415. Ag, LAMPF, DF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93415

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93784. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93784

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋20.8赤12.4（0）. 日付元記載「3/23 (Wed)」. 実験者元記載「桐谷, 林」.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93785. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93785

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93786. Ni, He ion照射1MeV, DF., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93786

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93787. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93787

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93788. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93788

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93789. Ni, He ion照射1MeV, DF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93789

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93790. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93790

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93791. Ni, He ion照射1MeV, DF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93791

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93792. Ni, He ion照射1MeV, BF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93792

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93793. Ni, He ion照射1MeV., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93793

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93794. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93794

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋14.3赤10.0（220）.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93795. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93795

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93796. Ni, He ion照射1MeV, DF., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93796

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93797. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93797

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93798. Ni, He ion照射1MeV, DF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93798

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93799. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93799

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93800. Ni, He ion照射1MeV, BF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93800

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93801. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93801

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)グレイン変える.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93802. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93802

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93804. Ni, He ion照射1MeV, DF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93804

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93805. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93805

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93806. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93806

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93807. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93807

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93808. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93808

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93809. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93809

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)その奥.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93810. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

アイテム

資料番号: L-93810

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)更に奥.

日付: [1994年]3/23 (Wed).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93811., [1994年]3/23 (Wed).

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資料番号: L-93811

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1994年]3/23 (Wed).