桐谷, 道雄, 1932-2003

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27780. D3, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27780

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27781. D3, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27781

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s0.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27782. D3, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27782

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27783. D3, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27783

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27784. D3, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27784

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27785. D3, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27785

範囲と内容

(EM/D3)G742. (試料番号)D3. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)この試料終わり.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27786. EM, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27786

範囲と内容

(EM/D3)B272. (試料番号)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)contamination激しい.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27787. EM, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27787

範囲と内容

(EM/D3)B272. (試料番号)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27788. EM, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27788

範囲と内容

(EM/D3)B272. (試料番号)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27789. EM, 450℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27789

範囲と内容

(EM/D3)B272. (試料番号)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27790. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27790

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　1.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27791. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27791

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α 2.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27792. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27792

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α 3.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27793. EM, 200℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27793

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27794. EM, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27794

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27795. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27795

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　1.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27796. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27796

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　2.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27797. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27797

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　2.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27798. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27798

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　3.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27799. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27799

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　他.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27800. EM, 200℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27800

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27801. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27801

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27802. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27802

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　boundary付近.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27803. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27803

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27804. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27804

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27805. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27805

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27806. EM, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27806

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27807. EM, 200℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27807

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27808. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27808

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　最初のα-βとほぼ同じ傾け量.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27809. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27809

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27810. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27810

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27811. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27811

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27812. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27812

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27813. EM, 200℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27813

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27814. EM, 200℃, SS, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27814

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27815. EM, 200℃, SS, 52K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27815

範囲と内容

(EM/D3)B271. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27816. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27816

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27817. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27817

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27818. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27818

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27819. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27819

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27820. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27820

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27821. EM, 200℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27821

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27822. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27822

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β 傾け量いつもと同じ程度（記録忘れ）.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27823. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27823

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27824. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27824

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27825. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27825

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27826. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27826

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27827. EM, 200℃, SS., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27827

範囲と内容

(EM/D3)G429. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27828. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27828

範囲と内容

(EM/D3)G309. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27829. EM, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年7月29日.]

アイテム

資料番号: O-27829

範囲と内容

(EM/D3)G309. (試料番号)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月29日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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