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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28030. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28030
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28031. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28031
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインC.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28032. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28032
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28033. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28033
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28034. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28034
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28035. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28035
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28036. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28036
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28037. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28037
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28038. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28038
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28039. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28039
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28040. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28040
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小 .

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28041. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28041
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28042. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28042
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28043. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28043
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28044. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28044
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28045. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28045
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28046. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28046
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28047. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28047
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28048. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28048
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28049. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28049
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28050. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28050
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28051. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28051
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28052. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28052
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28053. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28053
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28054. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28054
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28055. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28055
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)隣.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28056. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28056
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)さらに隣へ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28057. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28057
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)さらに.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28058. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28058
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上4枚のdiff.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28059. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28059
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)4枚とも同じグレインなので厚みは大体同じ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28060. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28060
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)dislocation, ST1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28061. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28061
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28062. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28062
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28063. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28063
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)dislocation, ST1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28064. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28064
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28065. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28065
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28066. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28066
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28067. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28067
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28068. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28068
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28069. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28069
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28070. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28070
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28071. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28071
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28072. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28072
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28073. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28073
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)正g.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28074. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28074
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28075. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28075
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)隣　同じｇ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28076. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28076
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28077. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28077
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)110poleそば. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28078. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28078
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28079. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28079
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中～.

(備考)この試料おわり.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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