メインコンテンツへスキップ

桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28530. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28530
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28531. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28531
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28532. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28532
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28533. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28533
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28534. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28534
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28535. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28535
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28536. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28536
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28537. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28537
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28538. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28538
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28539. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28539
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28540. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28540
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28541. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28541
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28542. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28542
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28543. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28543
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28544. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28544
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28545. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28545
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28546. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28546
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28547. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28547
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28548. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28548
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28549. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28549
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28550. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28550
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28551. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28551
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28552. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28552
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28553. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28553
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28554. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28554
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28555. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28555
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (反射ベクトルg)220.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28556. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28556
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28557. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28557
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (反射ベクトルg)200.

(備考)αと同じｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28558. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28558
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)αと同じｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28560. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28560
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1 赤12（320）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28561. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28561
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ST.1 赤12（321）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28562. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28562
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1 赤12（322）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28563. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1 赤12（323）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28564. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1 赤12（324）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28565. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1 赤12（325）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28566. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)ST.1 赤12（326）.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28567. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28568. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下6度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28569. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下7度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28570. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下8度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28571. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下9度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28572. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下10度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28573. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.2 赤18（200）2回転以下11度.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28574. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同じgrain 上のST.1とほぼ同じ回折条件.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28575. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28576. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28576
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28577. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28577
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28578. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28578
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28579. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28579
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28580. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28580
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ