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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28581. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28581
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28582. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28582
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28583. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28583
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28584. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28584
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28585. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28585
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28586. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28586
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28587. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28587
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28588. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28588
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28589. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28589
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28590. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28590
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28591. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28591
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28592. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 80K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28592
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)だめ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28593. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28593
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28594. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28594
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28595. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28595
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28596. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28596
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28597. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28597
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28598. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28598
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28599. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28599
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28600. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28600
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28601. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28601
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28602. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28602
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28603. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28603
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28604. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28604
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28605. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28605
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28606. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28606
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28607. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28607
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28608. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28609. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28610. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28611. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28612. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28613. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28614. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28615. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28616. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28617. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28617
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28618. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28618
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28619. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28619
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28620. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28620
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28621. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28621
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28622. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28622
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28623. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28623
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28624. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28624
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28625. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28625
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28626. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28626
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28627. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28627
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28628. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28628
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「1986. 8. 2. a.m. 9:00」.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28629. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28629
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28630. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28630
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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